18701829647
资讯资讯
联系大家
澳门太阳集团8722
联系人:商务:陈先生187-0182-9647
法务:陈女士159-0162-7882
网 址:www.shknjx.com
邮 箱:商务chenjx@shknjx.com
地 址:中国上海闵行区北松公路488号
半导体测试治具
半导体测试治具
ICT测试治具可以直接对在线器件电气性能来进行测试,在测试的过程中可以发现产品的不良器件。从内存单元读取数据所需的时间,就是ICT测试治具的存储器读取时间,方法是这样的:
1.往单元A写入数据"0",单元B写入数据"1",坚持READ为使能状态并读取单元A值。
2.地址转换到单元B,实质上就是ICT测试治具丈量内存数据的坚持时间。
3.转换时间就是从地址转换开始到数据变换之间的时间。
4.暂停时间--内存单元能保持它状态的时间。
5.刷新时间--刷新内存的最i大允许时间。
6.建立时间--输入数据转换必需提前锁定输入时钟的时间。
7.坚持时间--锁定输入时钟之后输入数据必需坚持的时间。
8.写入恢复时间--写操作之后的能读取某一内存单元所必须等待的时间。
扫一扫关注大家
商务:陈先生187-0182-9647
法务:陈女士159-0162-7882
中国上海闵行区北松公路488号
商务chenjx@shknjx.com